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Peter Beil, Auteur | 2021La taille de gravure des puces se réduit sans cesse et elles sont de plus en plus vulnérables aux dommages causés par les décharges électrostatiques. (Extrait d'Elektor, 490, p.100)Article : texte imprimé
George Novacek, Auteur | 2018"Last month George reviewed the causes and results of electrical overstress (EOS). Picking up where he left off, here looks at how to prevent EOS/ESD induces damage - starting with choosing properly rated components." (Extrait de Circuit Cellar n°330)Article : texte imprimé
George Novacek, Auteur | 2017"When an electronic component starts to work improperly, it can be difficult to trace the exact cause. Two likely culprits are electrical overstress (EOS) and electrostatic discharge (ESD). George breaks down the important differences between the two and how to avoid their effects." (Extrait de Circuit Cellar n&...Article : texte imprimé
Robert Lacoste, Auteur | 2015"Electrostatic discharges (ESD) can create big problems for your electronic systems. Even well-insulated systems can fall victim to ESD. Robert details several "ESD events" and provides tips for protecting your projects." (Extrait de Circuit Cellar n°297)