Titre : | Component overstress : avoiding EOS damage (2017) |
Auteurs : | George Novacek, Auteur |
Type de document : | Article : texte imprimé |
Dans : | Circuit cellar (329, December 2017) |
Article en page(s) : | P. 59-61 |
Langues: | Américain |
Sujets : |
IESN Composant électronique ; Décharge électrostatique ; Dysfonctionnement ; Surcharge électrique - EOS |
Résumé : |
"When an electronic component starts to work improperly, it can be difficult to trace the exact cause. Two likely culprits are electrical overstress (EOS) and electrostatic discharge (ESD). George breaks down the important differences between the two and how to avoid their effects." (Extrait de Circuit Cellar n°329)
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Exemplaires (1)
Localisation | Section | Support | Cote de rangement | Statut | Disponibilité |
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Bibliothèque IESN | _Périodiques | Périodique | 62 CIR 329 | Consultation possible sur demande | Exclu du prêt |