| Titre : | Reliability and failure prediction : a new take (2017) |
| Auteurs : | Craig Armenti, Auteur ; Dave Wiens, Auteur |
| Type de document : | Article : texte imprimé |
| Dans : | Circuit cellar (325, August 2017) |
| Article en page(s) : | P. 22-25 |
| Langues: | Américain |
| Sujets : |
IESN Analyse ; Electronique ; Environnement ; Printed Circuit Board |
| Résumé : |
"HALT methodology has been a popular way to test harsh environment reliability. A new approach involves PCB design simulation for vibration and acceleration for deeper yet faster analyses." (Extrait de Circuit Cellar n°325)
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Exemplaires (1)
| Localisation | Section | Support | Cote de rangement | Statut | Disponibilité |
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| Bibliothèque IESN | _Périodiques | Périodique | 62 CIR 325 | Consultation possible sur demande | Exclu du prêt |
