Titre : | Technology and test solutions advance for 5G : next-gen communications (2018) |
Auteurs : | Jeff Child, Auteur |
Type de document : | Article : texte imprimé |
Dans : | Circuit cellar (330, January 2018) |
Article en page(s) : | P. 40-44 |
Langues: | Américain |
Sujets : |
IESN 5G ; Communication ; Puce électronique ; Technologie |
Résumé : |
"As carriers worldwide prepare for 5G communications, chip suppliers and test equipment vendors are evolving their products to meet the challenges of the 5G era." (Extrait de Circuit Cellar n°330)
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Exemplaires (1)
Localisation | Section | Support | Cote de rangement | Statut | Disponibilité |
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Bibliothèque IESN | _Périodiques | Périodique | 62 CIR 330 | Consultation possible sur demande | Exclu du prêt |