Titre : | Signature analyzer uses NXP MCU : scope-free tester (2018) |
Auteurs : | Brian Millier, Auteur |
Type de document : | Article : texte imprimé |
Dans : | Circuit cellar (337, August 2018) |
Article en page(s) : | P. 28-35 |
Langues: | Américain |
Sujets : |
IESN Electronique ; Microcontrôleur ; Signal (électronique) ; Testeur autonome (électronique) |
Résumé : |
"Doing a signature analysis of a signal used to require an oscilloscope to display your results. In this article, Brian details how to build a free-standing tester using mostly just the internal peripherals of an NXP Arm microcontroller. He describes how the tester operates and how he implemented it." (Extrait de Circuit Cellar n°337)
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Exemplaires (1)
Localisation | Section | Support | Cote de rangement | Statut | Disponibilité |
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Bibliothèque IESN | _Périodiques | Périodique | 62 CIR 337 | Consultation possible sur demande | Exclu du prêt |