| Titre : | High accelerated product testing : stress and statistics (2018) |
| Auteurs : | George Novacek, Auteur |
| Type de document : | Article : texte imprimé |
| Dans : | Circuit cellar (340, November 2018) |
| Article en page(s) : | P. 62-65 |
| Langues: | Américain |
| Sujets : |
IESN Fiabilité ; Highly Accelerated Lifetime Testing ; Ingénierie de la fiabilité ; Stress hautement accéléré ; Système électronique |
| Résumé : |
"It's a fact of life that every electronic system eventually fails. Manufacturers use various methods to weed out most of the initial failures beofre shipping their products. Here, George discusses engineering attempts to bring some predictability into the reliability and life expectancy of electronic systems. In particular, he focuses onf Highly Accelerated Lifetime Testing (HALT) and Highly Accelerated Stress Screening (HASS)." (Extrait de Circuit Cellar n°340)
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Exemplaires (1)
| Localisation | Section | Support | Cote de rangement | Statut | Disponibilité |
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| Bibliothèque IESN | _Périodiques | Périodique | 62 CIR 340 | Consultation possible sur demande | Exclu du prêt |
