Titre : | Electromagnetic fault injection : a closer look (2019) |
Auteurs : | Colin O'Flynn, Auteur |
Type de document : | Article : texte imprimé |
Dans : | Circuit cellar (350, September 2019) |
Article en page(s) : | P. 62-66 |
Langues: | Américain |
Sujets : |
IESN Attaque (informatique) ; Détection d'attaque ; Electronique ; Injection de faute électromagnétique ; Périphérique (informatique) ; Système embarqué |
Résumé : |
"Electromagnetic Fault Injection (EMFI) is a powerful method of inserting faults into embedded devices, but what does this give us ? In this article, Colin dives into a little more detail of what sort of effects EMFI has on real devices, and expands upon a few previous articles to demonstrate some attacks on new devices." (Extrait de Circuit Cellar n°350) |
Exemplaires (1)
Localisation | Section | Support | Cote de rangement | Statut | Disponibilité |
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Bibliothèque IESN | _Périodiques | Périodique | 62 CIR 350 | Consultation possible sur demande | Exclu du prêt |