| Titre : | ESD le destroyer fantôme : foudroiement spontané des composants (2021) |
| Auteurs : | Peter Beil, Auteur |
| Type de document : | Article : texte imprimé |
| Dans : | Elektor (N°490, juillet & août 2021) |
| Article en page(s) : | P.100-104 |
| Langues: | Français |
| Sujets : |
IESN Décharge électrostatique ; Electronique |
| Résumé : | La taille de gravure des puces se réduit sans cesse et elles sont de plus en plus vulnérables aux dommages causés par les décharges électrostatiques. (Extrait d'Elektor, 490, p.100) |
Exemplaires (1)
| Localisation | Section | Support | Cote de rangement | Statut | Disponibilité |
|---|---|---|---|---|---|
| Bibliothèque IESN | _Périodiques | Périodique | 62 ELE 490 | Empruntable sur demande | Disponible |
