| Titre : | LC mètre en circuit : étude de prototype (2024) |
| Auteurs : | Michael Monkenbusch, Auteur |
| Type de document : | Article : texte imprimé |
| Dans : | Elektor (N°507, Mai & juin 2024) |
| Article en page(s) : | P.8-16 |
| Langues: | Français |
| Sujets : |
IESN Carte électronique ; Composant électronique ; Dépannage informatique ; Prototype (électronique) |
| Résumé : |
Lors du dépannage d'une carte électronique, il est utile de pouvoir tester les composants passifs directement sur le circuit imprimé sans avoir à la dessouder. Mais cette approche est également essentielle, pour minimiser les interférences avec le reste des composants pendant le test. Ce prototype de circuit peut mesurer des capacités de 1 pf à 80 mF ou des inductance de 1mH à 40 H. Il utilise une méthode de mesure à basse tension qui minimise l'impact des résistances parasites en parallèle ou en série. (Extrait d'Elektor, 407, p.8) |
Exemplaires (1)
| Localisation | Section | Support | Cote de rangement | Statut | Disponibilité |
|---|---|---|---|---|---|
| Bibliothèque IESN | _Périodiques | Périodique | 62 ELE 507 | Empruntable sur demande | Disponible |
