| Titre : | Adopting Test-Driven Development in Embedded Systems (2025) |
| Auteurs : | Jacob Beningo, Auteur |
| Type de document : | Article : texte imprimé |
| Dans : | Circuit cellar (417, April 2025) |
| Article en page(s) : | p. 42-45 |
| Langues: | Américain |
| Sujets : |
IESN Développement logiciel ; Système embarqué ; Test ; Test logiciel |
Exemplaires (1)
| Localisation | Section | Support | Cote de rangement | Statut | Disponibilité |
|---|---|---|---|---|---|
| Bibliothèque IESN | _Périodiques | Périodique | 62 CIR 417 | Empruntable sur demande | Disponible |
